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二硫化钨XRD图
二硫化钨XRD图即二硫化钨(WS2)的X-射线绕射分析,利用一种功能强大的非破坏性分析技术,侦测WS2晶的特性。XRD提供结构、相位、首选的晶体取向(纹理)和其他结构参数分析,例如平均粒度、结晶度、张力和晶体缺陷等等。
左图为二硫化钨XRD图;右图为纳米颗粒二硫化钨XRD图。
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