碳化鎢粉 >>


二硫化鎢XRD圖

二硫化鎢XRD圖即二硫化鎢(WS2)的X-射線繞射分析,利用一種功能強大的非破壞性分析技術,偵測WS2晶的特性。XRD提供結構、相位、首選的晶體取向(紋理)和其他結構參數分析,例如平均細微性、結晶度、張力和晶體缺陷等等。

二硫化鎢XRD圖納米顆粒二硫化鎢XRD圖

左圖為二硫化鎢XRD圖;右圖為納米顆粒二硫化鎢XRD圖。

更多資訊>>

1.鎢粉

2.粉末電子目錄

3.金屬粉末冶金術語

如果您對我們的產品感興趣,請隨時聯繫我們:
郵箱:sales@chinatungsten.com
電話: +86 592 5129696 / 86 592 5129595